Induction du phenomene de latchup par faisceau laser : etude et realisation d'un banc de test

Laser induced latchup: design and debug of a test equipment

• Auteur / Autrice : Catherine Peyre
• Direction : Jean-Claude Brabant
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1989
• Etablissement(s) : Toulouse, INSA

Mots clés

Mots clés libres

Electronique

Composant electronique

Dispositif semiconducteur

Tension disruptive

Disruption electrique

Faisceau laser

Essai automatique

Processus acquisition

Microordinateur

Résumé

Ce memoire est consacre a l'etude du phenomene de latchup induit par l'interaction entre un rayonnement laser et un semiconducteur. Uniquement realisant le balayage de la surface des composants par le faisceau laser a ete developpe. Le faisceau laser est utilise pour declencher et localiser le latchup. La caracterisation electrique et physique du phenomene est automatisee sur l'equipement de test suivant une procedure normalisee. Un micro-ordinateur controle les deplacements du composant et du faisceau laser, la configuration des broches du composant, l'envoi des signaux de test et l'acquisition des resultats. La validation de la station de test est realisee par la caracterisation de memoires statiques et d'un microcontroleur. Des cartographies de sensibilite au latchup des composants sont etablies par la localisation de zones sensibles