Thèse soutenue

Application de l'analyse des profils de raies de diffraction x pour caracteriser l'etat microstructural et mecanique des materiaux metalliques

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Auteur / Autrice : Vincent Ning Ji
Direction : Jean-Lou Lebrun
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Sciences appliquées. Physique
Date : Soutenance en 1989
Etablissement(s) : Paris, ENSAM

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Etude de la fiabilite d'une methode basee sur le lissage des pics de diffraction par une fonction de pseudo-voigt et sur le lissage des coefficients de fourier. Application a l'analyse de la microstructure de differents materiaux deformes. La sensibilite de la methode est remarquable pour differencier les modes de deformation et la quantite de deformation. Etude de l'approche des parametres mecaniques macroscopiques (durete, resistance) pour differents aciers. Le lien entre les parametres d'analyse des profils, et la propriete recherchee est directe quand la propriete est liee aux dislocations