Hydrogénation d'alliages semi-conducteurs amorphes : Structure et propriétés électroniques des alliages amorphes hydrogènes SI::(1-X)SN::(X):H
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Auteur / Autrice : | Michel Vergnat |
Direction : | Michel Piecuch |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Soutenance en 1988 |
Etablissement(s) : | Nancy 1 |
Partenaire(s) de recherche : | Autre partenaire : Université Henri Poincaré Nancy 1. Faculté des sciences et techniques |
Mots clés
FR
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Physique
état condensé
Propriétés mécaniques et thermiques
Étude expérimentale
Non métal
Couche mince
État amorphe
Impureté
Hydrogène|sec
Support
Composition chimique
Système binaire
Hydrogénation
Semiconducteur
Diffraction électron
Spectre moessbauer
Couche multiple
Caractérisation
Conductivité électrique
Propriété transport
Silicium|sub
Système étain silicium|sub
Évaporation réactive
Experimental study
Non metal
Thin film
Amorphous state
Impurity
Hydrogen
Support
Chemical composition
Binary system
Hydrogenation
Semiconductor materials
Electron diffraction
Moessbauer spectrum
Multiple layer
Characterization
Electrical conductivity
Transport properties
Silicon
Reactive evaporation
Résumé
FR
Les atomes d'hydrogène sont introduits dans les couches durant leur élaboration par évaporation. L'influence des paramètres de préparation est mise en évidence sur les propriétés physiques de couches de SI pur. Les alliages SI::(1-X)SN::(X) et SI::(1-X)SN::(X) : H peuvent être préparés à l'état amorphe dans une large gamme de compositions. Des études de diffraction électronique, de spectrométrie moessbauer et des mesures de densité massique montrent que ces alliages possèdent une structure tétraédrique. Cette méthode a également permis d'élaborer des multicouches SI/SI : H, de l'étain semiconducteur et de l'hydrure de titane