Thèse soutenue

Caractérisation par simulation de la métastabilité des circuits séquentiels : application à des structures VLSI

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Auteur / Autrice : Jean Tomas
Direction : Philippe Marchegay
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance en 1988
Etablissement(s) : Bordeaux 1
Partenaire(s) de recherche : Autre partenaire : Université Bordeaux-I. Faculté des sciences (1971-2013)
Jury : Président / Présidente : Jean-Louis Aucouturier
Examinateurs / Examinatrices : Philippe Marchegay, Jean-Louis Aucouturier, Gaston Cambon, André Charru, Jean-Claude Gourdon, Philippe Marchegay, Patrice Nouel

Résumé

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Le travail présenté consiste en la réalisation d'un logiciel d'aide à la conception de circuits unifieurs, appelé remus (recherche des états métastables dans les circuits unifieurs par simulation), en vue de leur optimisation vis-à-vis de la métastabilité. Ce programme, écrit en pascal, implante sur micro-vax est bâti autour du simulateur électrique spice. Les algorithmes implantés permettent d'obtenir la courbe d'incertitude de l'unifieur avec en temps de calcul réduit. Les résultats de sept circuits témoins sont présentés comparativement.