Thèse soutenue

Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques
FR  |  
EN
Accès à la thèse
Auteur / Autrice : François Rieutord
Direction : Marianne Lambert
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance en 1987
Etablissement(s) : Paris 11
Partenaire(s) de recherche : autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne)
Jury : Président / Présidente : Pierre-Gilles de Gennes
Examinateurs / Examinatrices : Marianne Lambert, Florin Abelès, Pierre-Gilles de Gennes, Jean-Jacques Benattar, Dominique Langevin

Résumé

FR

Différentes études par rayon X de films de molécules amphiphiles (monocouche et multicouches de Langmuir-Blodgett) sont ici présentées. On décrit d'abord une méthode d'analyse structurale utilisant trois techniques conjuguées de rayons X: diffraction en transmission et en réflexion, et étude de la réflexion critique. On montre ensuite que l'examen complet d'une courbe de réflectivité aux rayons X permet d'obtenir des informations détaillées non seulement sur la structure mais aussi sur les interfaces de ces films multicouches. Ces données sont complétées par des observations directes des défauts de la surface au moyen de la microscopie électronique sur des répliques. Enfin on étudie la réflectivité d'une monocouche directement à la surface de l'eau, ce qui fournit d'une part son profil suivant la normale et d'autre part la rugosité de l'interface due aux ondes capillaires excitées thermiquement.