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Thèse soutenue

Contribution au test autonome des circuits VLSI : un microprocesseur à test aléatoire intégré

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Auteur / Autrice : Pierre Thorel
Direction : René David
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Automatique et traitement du signal
Date : Soutenance en 1987
Etablissement(s) : Grenoble INPG

Résumé

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Le test des circuits integres cmos a haute densite se heurte a deux difficultes. D'une part, la complexite croissante et la relative stabilite du nombre de broches limitent leur commandabilite et leur observabilite. D'autre part, leur test realiste se doit de prendre en compte certains defauts propres a la technologie cmos et susceptibles de donner a un dispositif combinatoire un comportement sequentiel. L'approche de test autonome integre proposee dans cette these offre une reponse sur ces deux points, tant pour le test de fin de fabrication que le test in situ. La methode choisie est basee sur le test aleatoire. Elle conduit a un resultat de type ''bon/pas bon'' (sans localisation de defauts). Le circuit dispose de deux modes de fonctionnement distincts : un mode normal et un mode test. En mode normal, le circuit remplit sa fonction nominale. En mode test, le circuit est excite par un generateur pseudo-aleatoire integre, ses reponses etant compactees en une signature. Apres une duree de test pre-etablie, la signature ainsi obtenue est comparee a celle d'un circuit correct. Cette approche est mise en oeuvre sur un circuit realise au cnet-cns : un microprocesseur 16 bits ''mti''. La generalisation des solutions utilisees dans ''mti'' est egalement abordee