Mesure de l'anisotropie des couches produites par évaporation-condensation : corrélation entre la microstructure et les conditions de dépôt

Measurement of anisotropy of thin films produced by evaporation-condensation : correleation between microstructure and deposition conditions

• Auteur / Autrice : You-lin Hu
• Direction : Paul Bousquet
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique. Composants, signaux et systèmes. Composants électroniques et optiques
• Date : Soutenance en 1987
• Etablissement(s) : Aix-Marseille 3
• Partenaire(s) de recherche : autre partenaire : Université Paul Cézanne. Faculté des sciences et techniques de Saint-Jérôme (Aix-Marseille)

Résumé

Mise en evidence d'une anisotropie marquee des couches obtenues par evaporation-condensation, interpretee par la microstructure en colonnes. Etude de la variation des indices de refraction principaux en fonction des conditions de depot et correlation avec la direction de croissance des colonnes. Differences de microstructure entre les couches isolees et les couches inserees dans un empilement