Thèse soutenue

Étude des mécanismes d'amorphisation des métaux par implantation ionique et irradiation

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Auteur / Autrice : Abdenacer Benyagoub
Direction : Harry Bernas
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Sciences physiques
Date : Soutenance en 1986
Etablissement(s) : Paris 11
Partenaire(s) de recherche : autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne)

Résumé

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Nous avons étudié les mécanismes d'amorphisation des métaux par implantation ionique et irradiation à l'aide des techniques de mesure de résistivité électrique, de RBS et de canalisation. La résistivité électrique nous a indiqué que le domaine de faisabilité des alliages métalliques amorphes produits par implantation ionique est généralement plus étendu que celui des alliages élaborés par trempe rapide. Nous avons mis au point une méthode simple mais rigoureuse permettant de déterminer, à partir des courbes de décanalisation, la fraction amorphe (au maximum de désordre), dans un monocristal bombardé par des ions. La canalisation nous a montré que la cinétique d'amorphisation de métaux par implantation ionique présente une variation sigmoïdale à basse température, tandis qu'elle est quasi-linéaire à plus haute température. Pour interpréter ces résultats (ainsi que ceux d'autres auteurs), nous avons mis au point deux modèles basés sur l'hypothèse que l'amorphisation se fait par amas. Les expériences d'amorphisation par irradiation d'alliages métalliques cristallins présentant des équivalents amorphes nous ont permis de proposer un modèle tenant mieux compte de la saturation à haute fluence que celui de Gibbons. Nous avons trouvé qu'il suffit de créer 0. 03 d. P. A. Pour amorphiser un volume donné de Ni₃B à basse température, indépendamment de la nature de l'ion irradiant. L'étude, par résistivité électrique, de l'évolution sous irradiation d'alliages métalliques amorphes nous a permis de mettre en évidence l'existence, selon la nature et la composition de l'alliage, de deux mécanismes d'endommagement. Le premier consiste en la création de "défauts ponctuels" et le second en la formation de volume libre.