Élaboration d'un réflectomètre et simulation du domaine temps à partir de mesures fréquentielles : application à la localisation et à la caractérisation de défauts dans les lignes coaxiales

Reflectometer elaboration and time domain simulation from frequency measurements : application to defect localisation and caracterisation in coaxial lines

• Auteur / Autrice : Pascal Duprat
• Direction : Louis Wartski
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Électronique
• Date : Soutenance en 1985
• Etablissement(s) : Paris 11
• Partenaire(s) de recherche : Autre partenaire : Université de Paris-Sud. Faculté des sciences d'Orsay (Essonne)

Mots clés

Mots clés contrôlés

Fourier, Transformations de

Spectroscopie de réflectance

Mots clés libres

Ligne coaxiale

Défaut

Résumé

Nous étudions deux méthodes permettant aussi bien la localisation que la caractérisation de défauts dans les lignes coaxiales à partir de mesures fréquentielles. La première méthode a été implantée sur un banc scalaire. Elle exploite les interférences entre l'onde incidente et l'onde réfléchie par l'obstacle. Elle permet une localisation très précise du défaut. Cependant, les possibilités de caractérisation de celui-ci sont assez limitées. La seconde méthode nous a permis de retrouver les possibilités de la réflectométrie dans le domaine temps. La réponse temporelle est en effet calculée par transformation de Fourier inverse de la réponse fréquentielle de la ligne. Cette méthode de simulation nécessite une mesure vectorielle mais permet une réelle caractérisation du défaut. Après avoir mis en évidence les limitations physiques (résolution et longueur maximum accessible), nous avons localisé des défauts volontairement créés dans des lignes coaxiales à air. Le but de ces essais était de distinguer et de caractériser différents défauts courants à l'intérieur d'une ligne coaxiale: écrasement, détérioration de la tresse extérieure, impédance caractéristique mauvaise. Enfin, les réponses temporelles simulées ont été comparées à celles obtenues en réflectométrie classique. Les principaux avantages de la réflectométrie simulée par rapport à la réflectométrie classique sont la séparation du signal incident et du signal réfléchi, l'absence de rebondissements sur l'échelon incident et la possibilité d'en contrôler le temps de montée. Un aspect non négligeable de la réflectométrie simulée est l'utilisation d'un matériel non spécifique.