Calcul des circuits électroniques VLSI avec optimisation des tolérances

Calculation of VLSI electronic circuits with tolerance optimization

• Auteur / Autrice : Tadeusz Gryba
• Direction : Pierre Borne
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Sciences physiques
• Date : Soutenance en 1985
• Etablissement(s) : Lille 1

Mots clés

Mots clés contrôlés

Conception assistée par ordinateur en génie logiciel

Optimisation mathématique

Partitions (mathématiques)

Circuits intégrés à grande échelle

Résumé

Étude d'une modélisation et d'une simulation d'un procédé de fabrication et d'un comportement électrique des circuits intégrés. Le critère fiabilité-économique minimise le coût de production avec une fiabilité supérieure à une valeur de satisfaction. Les valeurs optimales des paramètres des circuits à très haute intégration sont obtenues par une décomposition en sous-problèmes basée sur un partitionnement du circuit en sous-circuits à partir du graphe de corrélation et du graphe électrique. La méthode de programmation stochastique permet de calculer les valeurs nominales et les tolérances optimales des paramètres du sous-circuit. Les paramètres optimaux du circuit VLSI sont calculés à partir de l'optimisation des sous circuits successifs.