François Braud
Mots clés
FR |
EN
Défiabilisation
Composants nanoélectroniques
Radioactivité naturelle
Rayons cosmiques
Mémoires
Nanoélectronique
Erreurs logiques
Composants électroniques
Ordinateurs -- Mémoires à accès sélectif
Sciences appliquees
Electronique
Etude experimentale
Propriete materiau
Cuivre
Nc
Fiabilite
Analyse performance
Electrodiffusion
Interconnexion
Barriere diffusion