Niccolò Rinaldi
IdRefMots clés
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Transistors bipolaires à hétérojonctions
HBT SiGe:C
Fiabilité à long-terme
Dégradation par porteur chaud
Modélisation compact
Porteurs chauds
Transistors bipolaires à hétérojonction (HBTs)
Effets électrothermiques
Résistance thermique
Capacitance thermique
Impédance thermique
Back end of line (BEOL)
Layout des doigts d’émetteur
Spécifications SOA
Couplage thermique intra-device
Circuits pour l’évaluation de modèles, interactions du composant au circuit
Simulations thermiques TCAD
Impact thermique du profile de dopage
Caractérisation de composants à semi-conducteur
Mesures pulsées