Sven Tougaard
IdRefMots clés
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XPS
HAXPES (Spectroscopie de photoémission utilisant des rayons X durs)
Analyse du fond continu inélastique
Interfaces profondément enterrées
HAXPEEM (Microscopie de photoémission utilisant des rayons X durs)
Analyse de Tougaard du fond inélastique
HEMT (transistor à haute mobilité électronique)
Spectroscopie de photoélectrons
HAXPES
Photoémission
Rayons-x de haute énergie
Couche ultra fine de lanthane
Photoélectrons
Spectroscopie