Salvatore Lombardo
Mots clés
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Microélectronique
Sonos
Mémoires flash
Mémoire résistives RRAM
Sous oxides HfOx
HfO2
Ab initio simulations atomistiques
Diffusion migration des défauts
Formation du filament conducteur
Memristors
Oxyde de hafnium
Mémoires à changement de phase
Ge-rich
Fiabilité
Drift
Rétention de donnée
Microscopie électronique en transmission
Mémoire flash
Mémoire non volatile
Mémoire 3D