Estelle Lauga-Larroze
Mots clés
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Circuits intégrés
Microélectronique
MOS complémentaires
Fdsoi
MOS (électronique)
Fiabilité
Matériaux -- Détérioration
Bande G
Détecteur de puissance
Ondes millimétriques
Technologie silicium sur isolant
FD-SOI (transistors)
Capteur de vision CMOS
Compensation du bruit spatial fixe
Pixels à compresseur logarithmique
Pixels à temps d'intégration
Imagerie (technique)
Prédiction de la dégradation
Stress DC, Stress RF
Dégradation des paramètres DC et RF