Alexandra Delvallée
IdRefMots clés
FR |
EN
Métrologie
Cd-Sem 3d
Reconstruction 3D
Modèle linéaire
Simulation
Machines à mesurer tridimensionnelles
Modèles linéaires (statistique)
Microscopes électroniques à balayage
Estimation de paramètres
Métrologie hybride
Fusion de données
Microelectronique
Precision
Incertitudes de mesure
Nanostructures
Semiconducteurs
Incertitude de mesure
Microélectronique
Lithographie
Mesure