Luis Alfonso Entrena Arrontes
Mots clés
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Fiabilité
Radiation
Risc-V
Rayonnements
Réseaux logiques programmables par l'utilisateur
Système sur puce
Méthodologie de test
Systèmes embarqués (informatique)
Effets singuliers
Dram
Mémoire Flash
Injection de fautes
Réseaux de neurones
Rayonnement extraterrestre
Mémoires flash
Réseaux neuronaux (informatique)
Rayonnements ionisants
Effets des radiations
Redondance modulaire triple
Électronique numérique