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des thèses françaises
François Bertin
IdRefMots clés
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Microélectronique
Microscopie à force atomique
Semiconducteurs -- Dopage
Travail de sortie
Microscopie en champ proche
Microscopie à force atomique,
KFM
CdTe/CdS hétérojonction
Caractérisation
Science des matériaux
Microscopie électronique en transmission
Fonctionnalisation de surface
Microscope à force atomique
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Nanotubes
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