Philippe Chiquet
Mots clés
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Mos
Courants tunnel
Ionisation par impact
Mesure pulsée de courant
Modélisation
Mémoires non-volatiles
Ordinateurs -- Mémoires à semiconducteurs
MOS (électronique)
Modèles mathématiques
Mémoire
Ferroélectrique
Caractérisation électrique
Oxyde d’hafnium
HfO2
Nanoélectronique
Mémoires non-volatiles à accès sélectif
Cristaux ferroélectriques
Oxyde de hafnium