Arnaud Régnier
Mots clés
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Modélisation
Modèles mathématiques
Caractérisation électrique
Mos
Courants tunnel
Ionisation par impact
Mesure pulsée de courant
Mémoires non-volatiles
Ordinateurs -- Mémoires à semiconducteurs
MOS (électronique)
Mémoires non volatiles
Consommation de courant
Procédé de fabrication
Transistor vertical
Hiérarchie de mémoire (informatique)
Ordinateurs -- Circuits
Consommation d'énergie
Architecture -- Informatique
Mémoires non volatiles embarquées
Cellule mémoire