Le moteur de recherche
des thèses françaises
Eric Lorfèvre
IdRefMots clés
FR |
EN
Effets des rayonnements
Ions lourds
Transistors de puissance
Charge de claquage
MOSFET de puissance
Défauts latents
Fiabilité
Transistors MOSFET
Radioactivité
Composants électroniques
Diodes à avalanche
Pannes
Durcissement superficiel
Méthodes de simulation
Surveillance niveaux de radiation
Qualification Composants Electroniques
Dosimetrie
CubeSat
Environnement Radiatif
Rayonnements -- Dosage