Frédéric Houzé
Mots clés
FR |
EN
Films minces
Systèmes microélectromécaniques
Couches minces
Microscopie à force atomique
Nanoindentation
Micro-relais MEMS ohmique
Traitements de surface
Microstructure
Nano-indentation
Analyse discrète des nano-rugosités
Résistance électrique de contact
Or -- Métallurgie
AFM
Microscopie à Force Atomique
PFM
Résiscope
Courbes approche-retraits
Contact intermittent
SAM
Monocouches auto-assemblées d’alcane thiols