Olivier Latry
Mots clés
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Fiabilité
Transistors à effet de champ à dopage modulé
Nitrure de gallium
Vieillissement
Électronique de puissance
Semiconducteurs
GaN
Modélisation
Pièges
Mécatronique
Modèles mathématiques
Détérioration
Analyse de défaillance
Détection de défaut (ingénierie)
Transistors
Transistors MOSFET
Essais accélérés (technologie)
Commutation (électricité)
Analyse des Temps entre défaillances
Transistors de puissance