Christian Moreau
IdRefMots clés
FR |
EN
Fiabilité
Nitrure de gallium
HEMT
Caractérisations électriques
Transistors à effet de champ à dopage modulé
Essais accélérés (technologie)
Carbure de silicium
AlGaN/GaN
AlInN/GaN
Hyperfréquences
Bruit aux basses fréquences
Sources de bruit en 1/f
Tests de vieillissement accéléré
Contraintes électriques
HEMT AlGaN/GaN
Amplificateur de puissance RF
Analyse de défaillance
Fonctionnement RADAR
Analyse micro-structurale
Radiofréquences