Łukasz Borowik
Mots clés
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Microscopie à force atomique
Microscopie à sonde de Kelvin
Semiconducteurs -- Dopage
Photopiles
Confinement quantique
Nanofils
Propriétés électroniques
Ions -- Implantation
Semiconducteurs à bande interdite étroite
États électroniques de surface
Transfert de charge
Silicium cristallisé
Mesure de travail de sortie
Temps de vie des porteurs
Alliage silicium-Germanium
Matériaux
Microscopie en champ proche
Spectroscopie de photoélectrons
Mesures électroniques
Recombinaison des porteurs de charge