Guillaume Brunetti
IdRefMots clés
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Contraintes
Déformations
Polycristallinité
Diffraction Électronique en mode Précession (PED)
Relaxation
Éléments finis
Lame mince
Microscopie Électronique en Transmission (MET)
SiGe
InGaAs
Transistor "Ω-gate"
Mémoire à changement de phase (PRAM)
Microscopie électronique
Microélectronique
Électrons -- Diffraction
MET
CBED
Mesure des paramètres cristallins
Approche multi-clichés
Superalliages