Guillaume Brunetti
IdRefMots clés
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EN
MET
CBED
Mesure des paramètres cristallins
Approche multi-clichés
Superalliages
Mesure des déformations
Déformations (mécanique)
Diffraction
Contraintes
Déformations
Polycristallinité
Diffraction Électronique en mode Précession (PED)
Relaxation
Éléments finis
Lame mince
Microscopie Électronique en Transmission (MET)
SiGe
InGaAs
Transistor "Ω-gate"
Mémoire à changement de phase (PRAM)