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des thèses françaises
Philippe Perdu
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Circuits intégrés
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MOS complémentaires
Stimulation laser
Circuits intégrés à très grande échelle
Circuit intégré
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Fiabilité
Silicium
MOS (électronique)
Temps entre défaillances, Analyse des
Microélectronique
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Aéronautique
Méthodologie
Transistor Bipolaire
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