Philippe Perdu
Mots clés
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Circuits intégrés
Fiabilité
Analyse de défaillance
MOS complémentaires
Stimulation laser
Circuits intégrés à très grande échelle
Analyse des Temps entre défaillances
Circuit intégré
Faisceaux laser
Silicium
Défauts
MOS (électronique)
Microélectronique
Composants électroniques
Électronique
Technologie
Durée de vie
Aéronautique
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Aviation