Frédéric Lalande
IdRefMots clés
FR |
EN
Mémoires flash
Modélisation
MOS (électronique)
Ordinateurs -- Mémoires mortes
Mos
Courants tunnel
Ionisation par impact
Mesure pulsée de courant
Mémoires non-volatiles
Ordinateurs -- Mémoires à semiconducteurs
Modèles mathématiques
Nanotechnologie
Mémoires non volatiles
Fiabilité
Ordinateurs -- Mémoires
Microélectronique
Architecture -- Informatique
Perte de charge
Interconnexions
Densité de courant