Jean-Luc Levant
Mots clés
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Circuits intégrés
Compatibilité électromagnétique
Immunité
Modélisation
CEM
Cem
Brouillage électromagnétique
Électromagnétisme
Contre-mesures électroniques
Radio -- Interférence
Électronique
Susceptibilité
Technique RFIP
Macromodèle ICIM-CI
Susceptibilité magnétique
Systèmes d'identification par radiofréquence
Cellule de Taylor
Couplage champ-à-piste
DPI
ICIM-CI