Kevin Sanchez
IdRefMots clés
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Traitement du signal
Analyse de défaillance
Circuits intégrés
Circuit intégré
Localisation de défaut
Emission de lumière dynamique
Comptage de photons
Classification
Seuillage d'images
Circuits intégrés à très grande échelle
Détection de défaut (ingénierie)
Spectroscopie résolue en temps
Stimulation laser
Défauts électriques -- Localisation
Lasers -- Applications industrielles
Traitement d'images
Fusion de données
Fusion multicapteurs