Stéphanie Jublot-Leclerc
IdRefMots clés
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Microscopie électronique en transmission
Ions -- Implantation
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Microscopie électronique en transmission (MET)
Irradiation
Semiconducteurs -- Défauts
Rayons X -- Diffraction
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Alliages Fe-Cr
Synthèse par faisceaux d’ions
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