Philippe Descamps
Mots clés
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Circuits intégrés
Analyse de défaillance
Semiconducteur
Emission de lumière
Simulation de fautes
Microélectronique digitale
Circuits intégrés à très grande échelle
Circuits intégrés à ultra-grande échelle
Semiconducteurs
MOS (électronique)
CI analogique et mixte
Techniques xVM
Localisation de défauts « soft »
Stimulation par faisceau laser continu en faible perturbation
Modélisation et simulations électriques de l’interaction faisceau laser-CI
Phénomène photo-thermique et photoélectrique
Stimulation laser
Effet des radiations
Analyse de circuits intégrés
Lasers