Nathalie Malbert
Mots clés
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Nitrure de gallium
Fiabilité
Transistors à effet de champ à dopage modulé
Transistors
Transistors MOSFET
GaN
Caractérisation électrique
Spectroscopie Raman
Électronique de puissance
Détérioration
MOS complémentaires
Modélisation
Caractérisation
Analyse de défaillance
Circuits intégrés
Composants électroniques
Transistors de puissance
Pièges
Composant de puissance
Semiconducteurs