Adrien Danel
IdRefMots clés
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EN
Contamination
Physique
Etat condense
Structure electronique. Proprietes electriques. Magnetiques et optiques
Recombinaison porteur charge
Recombinaison superficielle
Duree vie porteur charge
Dopage
Impurete peu profonde
Methode mesure
Methode non destructive
Methode dielectrique
Charge espace
Charge superficielle
Monitorage
Materiau semiconducteur
Silicium
Etude experimentale
Si
Contamination métallique