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des thèses françaises
Patrick Martin
IdRefMots clés
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Luminescence
Circuits intégrés
Impulsions laser ultra-brèves
Relaxation, Phénomènes de
Scintillateurs
Lasers femtoseconde
Diélectriques
Excitation électronique
Prédiction de la dégradation
Stress DC, Stress RF
Dégradation des paramètres DC et RF
Mécanismes de dégradation HCI, BTI, MMD et RVBE
TranEstimation de la durée de viesistors MOS et bipolaires
Conception en tenant compte de la fiabilité
Fiabilité
Matériaux -- Détérioration
MOS (électronique)
Transistors bipolaires
Durée de vie (ingénierie)
Transistors