Patrick Martin
Mots clés
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Lasers femtoseconde
Luminescence
Circuits intégrés
Phénomènes de relaxation
Scintillateurs
Lasers de puissance
Ytterbium
Diélectriques
Excitation électronique
Prédiction de la dégradation
Stress DC, Stress RF
Dégradation des paramètres DC et RF
Mécanismes de dégradation HCI, BTI, MMD et RVBE
TranEstimation de la durée de viesistors MOS et bipolaires
Conception en tenant compte de la fiabilité
Fiabilité
Méthodes de simulation
Matériaux -- Détérioration
MOS (électronique)
Transistors bipolaires