Brice Gautier
Mots clés
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Microélectronique
Microscopie à force atomique
Couches minces
Ferroélectricité
Nanoélectronique
Electronique
Fiabilité
Piezoresponse Force Microscopy - PFM
Piézoélectricité
Transistors MOSFET
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Matériau ferroélectrique
Microscopie à Force Atomique
Film mince
Modélisation
MOS (électronique)
Courant de fuite
Caractérisation électrique
Microscopie en champ proche
Couches minces piézoélectriques