Brice Gautier
Mots clés
FR |
EN
Microélectronique
Microscopie à force atomique
Ferroélectricité
Couches minces
Nanoélectronique
Electronique
Modélisation
Piézoélectricité
Fiabilité
Microscopie en champ proche
Nanofils
Matériau ferroélectrique
Piezoresponse Force Microscopy - PFM
Transistors MOSFET
Microscopie à Force Atomique
Film mince
MOS (électronique)
Nanotechnologie
Courant de fuite
Caractérisation électrique