Jean-Luc Rouvière
Mots clés
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Microscopie électronique en transmission
Microscopie électronique
Silicium
Nanofils
Holographie
Contraintes
MET
Déformations (mécanique)
Nanodiffraction
Germanium
Épitaxie par faisceaux moléculaires
Déformations
SiGe
Transistors
Holographie numérique
Diffusion
Ségrégation dynamique
Modélisation
Sonde atomique tomographique
Spectrométrie de masse d'ions secondaires