Martin Kogelschatz
IdRefMots clés
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Caractérisation électrique
Microélectronique
Microscopie à force atomique
Memristors
Gravure par plasma
Fiabilité
Microscopie à force atomique en mode conduction
TDDB
Métaloxyde semi conducteur
Oxyde bicouche
Filament
Résistance différentielle négative
Nanoélectronique
Ultravide
Pulse
ESD
MIM
Mémoires résistives
MOS (électronique)
Mémoire résistive