Jean-Guy Tartarin
IdRefMots clés
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Nitrure de gallium
Transistors à effet de champ à dopage modulé
Fiabilité
Transistors
Bruit
Bruit basse fréquence
Modélisation
GaN
Caractérisation
Matériaux -- Détérioration
Bruit électronique
HEMT
HEMT GaN
AlGaN
Silicium -- Substrats
Spectroscopie
Micro-ondes
Systèmes embarqués sans fil automobile
Canal de propagation radiofréquences
Qualité de transmission en Dynamique