Michaël Texier
Mots clés
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Diffusion (physique)
Microscopie électronique en transmission
Transition fragile-Ductile
Plasticité
Silicium
Semiconducteurs
Diffusion
Ségrégation dynamique
Modélisation
Sonde atomique tomographique
Spectrométrie de masse d'ions secondaires
Ségrégation (métallurgie)
Sondes atomiques tomographiques
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Effet de taille
Quasicristaux
Dislocation
Semi-Conducteur
Nano-Fil
Simulation