Étienne Sicard
Mots clés
FR |
EN
Compatibilité électromagnétique
Modélisation
Circuits intégrés
Immunité
CEM
Champ proche
Microcontrôleurs
Systèmes embarqués (informatique)
Brouillage électromagnétique
Électromagnétisme
Cellule de Taylor
Couplage champ-à-piste
DPI
ICIM-CI
Couplage
Circuit intégré
Émission
Caractérisation
Vieillissement
Fiabilité électromagnétique