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des thèses françaises
Jean Oualid
IdRefMots clés
FR
Essais
MOS (électronique)
Défauts ponctuels
Charge d'espace
Diodes
Composants électroniques
Circuits intégrés
Interfaces (sciences physiques)
Défauts
Semiconducteurs -- Défauts
Électrons de faible énergie
Silice
Oxydation
Diodes à avalanche
Porteurs chauds
Silicium
Dispositifs à couches minces
Surfaces (physique)
Conduction électrique
Semiconducteurs