Cyrille Le Royer
Mots clés
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Pente sous le seuil
Effet tunnel
Transistor
Caractérisation
TFET
SiGe
FDSOI
Transistors
MOS complémentaires
Germanium sur isolant
Transistors MOSFET
Contacts auto-Alignés
Capacités parasites
Contacts métal-semiconducteur
Technologie silicium sur isolant
Transistors à effet de champ
Contraintes (mécanique)
GeOI
Caractérisation électrique
Modélisation électrique