Frédéric Darracq
Mots clés
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Fiabilité
Faisceaux laser
Stimulation laser
Analyse de défaillance
Circuits intégrés
Lasers
Microélectronique
Composants électroniques
Laser
Circuit intégré
Circuits intégrés à très grande échelle
Effet des radiations
Analyse de circuits intégrés
Nbti
Porteurs chaud
Tddb
Électromigration
Effets singuliers
Test par faisceau Laser pulsé
CMOS 65 nm basse puissance