Le moteur de recherche
des thèses françaises
Patrick Girard
IdRefMots clés
FR |
EN
Test
Fiabilité
Interaction humain-machine
Microélectronique
Diagnostic
Circuits intégrés
Systèmes sur puce
Interfaces utilisateur (informatique)
Circuits électroniques
Électronique numérique
Ordinateurs -- Mémoires à accès sélectif
Sram
Détection de défaut (ingénierie)
Tolérance aux fautes (informatique)
Systèmes embarqués (informatique)
Ingénierie des systèmes
Ordinateurs -- Mémoires
MOS complémentaires
Composants électroniques
Faible consommation