Bogdan Mihail Cretu
IdRefMots clés
FR |
EN
Transistors MOSFET
Transistors
Bruit électrique
Transport quantique
Spectroscopie
Spectroscopie de bruit
Pièges
FinFET
Nanofils
Défauts électriques -- Localisation
FD-SOI (transistors)
Simulation
Modeling
Characterization
Semiconducteurs
Bruit de génération-Recombinaison
Bruit à basses fréquences
Bruit telegraphique
MOS complémentaires
Bruit électronique