Abdessamad Kobi
Mots clés
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Diagnostic
Qualité -- Contrôle
Statistique bayésienne
Détection de défaut (ingénierie)
Maîtrise statistique des processus
Analyse en composantes principales
Décision multicritère
Semiconducteurs
Analyse discriminante
Six sigma
Run Length
Petites séries
Cartes de contrôles
Coefficient de variation
Procédés de fabrication
Données massives
Semi-Conducteurs
Détection de défauts
ACP multiway
ACP récursive