Yannick Guhel
IdRefMots clés
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Capteurs (technologie)
Couches minces
Caractérisation thermique
Nitrure de gallium
Thermométrie
Spectroscopie Raman
Transistors à effet de champ
Contacts métal-semiconducteur
Ondes millimétriques
Amplificateurs de puissance
Oxydes de cérium
Couches épaisses (électronique)
Thermoréflectance
Transistors HEMTs
GaN
Stress électriques
Irradiations neutroniques
Transistors de puissance
Neutrons thermiques
Irradiation à faible dose