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des thèses françaises
Bernard Balland
IdRefMots clés
FR
MOS (électronique)
Silicium cristallisé
Bombardement ionique
Physique
Oxynitrures de silicium
Silicium
Ions -- Implantation
Détection de défaut (ingénierie)
Ordinateurs -- Mémoires à accès sélectif
Nitrure de silicium
Composés du silicium
Dépôt chimique en phase vapeur activé par plasma
Bruit électronique
Télédétection hyperfréquence
Propriétés électroniques
Effet tunnel
Électrotechnique
Électronique
Composants électroniques
Etat condense