Olivier Heron
Mots clés
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Fiabilité
Vieillissement
Circuits intégrés numériques
Consommation d'énergie
Température
Power-ArchC
Niveau fonctionnel de l'abstraction
Microprocesseurs
Systèmes informatiques -- Pannes
Réseaux logiques programmables par l'utilisateur
Injection de porteurs chauds (HCI)
Negative bias temperature instability (NBTI)
Marges temporelles
MPSoC
Simulation fonctionnelle
Conception
Détérioration
Simulation par ordinateur
Fiabilité des circuits numériques
Bti